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光电子器件加速老化试验

发布时间:2020-02-27 06:29:53    浏览次数:
  加速老化试验:
 
  在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行加速老化。依据试验的结果来判定光电子器件具备功能和丧失功能,以及接收和拒收,并可对光电子器件工作条件进行调整和对可靠性进行计算。
 
  1、高温加速老化:加速老化过程中的基本环境应力式高温。在实验过程中,应定期监测选定的参数,直到退化超过寿命终止为止。
 
  2、恒温试验:恒温试验与高温运行试验类似,应规定恒温试验样品数量和允许失效数。
 
  3、变温试验:变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度(例如,60℃、85℃和100℃)。
 
  4、温度循环:除了作为环境应力试验需要对光电子器件进行温度循环外,温度循环还可以对管电子器件进行加速老化。
 
  温度循环的加速老化目的一般不是为了引起特定的性能参数的退化,而是为了提供封装在组件里的光路长期机械稳定性的附加说明
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